广立微

产品介绍

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  EDA软件

  一、产品1：SmtCell SmtCell是一款参数化单元（Parameterized Cell）版图设计工具。参数化单元的优势在于：相同结构的单元版图只需创建一次；版图中几何图形的相关属性可用参数来表征；单元版图重复、费时的物理设计过程用参数赋值来代替。跟传统的版图设计工具相比，SmtCell可以带来设计效率的大幅提升。 二、产品2：TCMagic TCMagic是一款通用型的测试芯片版图自动化设计平台，基于其独特的软件架构设计和算法支持，在测试芯片设计过程中大幅提升设计效率。其主要功能包括基本单元版图批量生成、模块级版图自动布局布线、最终版图布局整合，以及版图相关设计文档、测试相关文档的自动生成。 三、产品3：ATCompiler ATCompiler是一款强大的可寻址测试芯片版图设计平台。该平台提供了完整的大型可寻址及划片槽内可寻址测试芯片的版图设计解决方案，包括基于公司电路IP的外围电路快速设计、基本单元版图批量生成、模块级版图自动布局布线、最终版图布局整合、全芯片仿真和验证以及设计文档和测试程序的自动生成等功能。可寻址测试芯片包括了可寻址IP和测试结构。 四、产品4：ICSpider ICSpider是一款用于产品芯片成品率和性能诊断的定制化测试芯片设计工具。产品导入和量产阶段，版图的物理环境变得更加复杂多样，每个产品芯片的设计成熟度和工艺敏感度都不同，会出现很多在工艺开发阶段未发现或者未重视的问题。 通过ICSpider，客户可以在保证产品芯片前道（先进工艺包括中道）工艺层不变的前提下，用最少的代价改变后道工艺层，获取基于产品版图的器件电性参数，帮助客户更直观、高效、有针对性地提升产品成品率和性能指标。 五、产品5：Dense Array Dense Array是一款基于超高密度测试芯片设计及快速测试技术的版图自动化软件。在超高密度方面，可以做到10mm²一百万个待测器件(DUT)，即10um²/DUT。在超快测试方面，通过片上控制模块和测试设备的协同优化，可以达到每秒10K样本量的测量速率，通过并行测试能线性加速，有效地缩短测试时间，满足先进工艺下百万分率、甚至十亿分率的异常点检测的需求。 六、产品6：DataExp DataExp 是广立微十多年来支持集成电路行业经验的积累，建立的结合“快捷报表浏览”和“灵活即时性分析”于一体的分析平台，能够有效地帮助半导体企业发挥数据价值，提升成品率和提高产品性能。 查看详情
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  产品率提升技术服务

  为工艺节点开发提供定制化服务，实现工艺开发周期的缩短和成品率的提升。 集成电路产品在更高性能和更低制造成本需求的持续驱动下，需要新技术、新材料和改进工艺进一步支持集成电路的研发与生产，因此成品率提升成为工艺开发和产品导入成功的关键。 广立微基于电性测试的全套解决方案能够极大的缩短研发周期，提升成品率。通过一站式测试芯片设计、电性测试及分析服务，助力客户新工艺/新产品线的成功研发，并极大地缩短研发周期、提高研发质量和成品率。 查看详情
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  WAT 测试设备

  一、产品介绍 在集成电路制造过程中，通过WAT测试 (晶圆允收测试）提取工艺和器件性能的信息用于指导芯片产品的过程研发和生产控制。随着制造工艺越来越复杂，WAT测试也变得越来越重要。为了满足先进工艺对高效率电性测试的需求，广立微电子自主研发了WAT测试设备。在满足量产精度要求的基础上，广立微WAT设备throughput是现有方案效率的1.4X-5X。 广立微WAT设备已经应用于多家领先的晶圆厂的量产产线和研发实验室。 二、产品特点 主要特点 为客户在程序控制过程中提供准确且高度自动化的测试解决方案提供两种操作方式：在线测试、离线测试根据前期测试结果能够让工程师灵活地改变测试计划的细节方便地控制晶圆探针台并制定测试框架的执行流程涵盖所有WAT测量项目：MOSFETs (Id, Vt, Ioff…), BJT, diode (breakdown), resistors, capacitors, etc.自主研发高性能硬件配置方案和电路结构设计，快速的并行测试技术平衡优化了测试速度及精度，连续采样率高达600k/秒。 查看详情